當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章
X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...
激光噴霧粒度儀是一種用于測量和分析噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒尺寸及其分布的精密儀器,在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用?;诩す馍⑸湓韺?shí)現(xiàn)顆粒動態(tài)分析。當(dāng)激光束通過噴霧顆粒時(shí),顆粒對入射光產(chǎn)生散射作用,散射光強(qiáng)度及角度分布與顆粒粒徑直接相關(guān)。大顆粒散射光角度較小且信號強(qiáng),小顆粒散射光角度較大且信號弱。通過測量散射光的角度分布與強(qiáng)度,結(jié)合Mie理論或Fraunhofer衍射模型(適用于5μm顆粒),反算出顆粒粒徑分布。例如,夫瑯和費(fèi)衍射模型通過平行光路設(shè)計(jì)優(yōu)化大顆粒測量精度。激光噴...
上文中我們介紹了一些針對落地式XRD的用戶日常儀器檢查維護(hù)技巧,主要集中于儀器清潔和外設(shè)日檢,本文將向大家繼續(xù)介紹XRD儀器其他部位的日檢及周檢技巧。日檢4:檢查光管打火XRD光管打火不僅會直接損害光管硬件,還可能通過影響X射線穩(wěn)定性和儀器精度,導(dǎo)致分析結(jié)果偏差。日常使用中需嚴(yán)格遵循操作規(guī)程,定期維護(hù)真空系統(tǒng)和冷卻系統(tǒng),并每日在軟件中檢查光管打火情況,以降低頻繁打火的風(fēng)險(xiǎn)并延長儀器壽命。在DataCollector中點(diǎn)擊Systemmaintenance,找到Tubecoun...
粉末衍射儀是一種基于X射線衍射技術(shù)的分析儀器,主要用于晶體物質(zhì)的定性和定量分析以及物相結(jié)構(gòu)研究。其工作原理是當(dāng)一束X射線照射到晶體樣品上時(shí),由于晶體內(nèi)部原子周期性排列,X射線會發(fā)生衍射,不同晶面間距的原子層會對X射線產(chǎn)生特定角度的衍射增強(qiáng),形成衍射圖譜。通過分析衍射圖譜,可以獲取晶體的晶格參數(shù)、結(jié)晶度等信息。粉末衍射儀的核心部件包括X射線光源、測角儀和探測器?,F(xiàn)代粉末衍射儀技術(shù)先進(jìn),測角儀角度精度可達(dá)0.0001°,測角半徑最大超過280mm,能夠精確測量衍射峰的位置。探測器...
納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器,在化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。該儀器主要基于動態(tài)光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態(tài)光散射(SLS)技術(shù)工作。動態(tài)光散射通過檢測顆粒布朗運(yùn)動速度計(jì)算粒徑分布;電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率,轉(zhuǎn)化為Zeta電位值;靜態(tài)光散射則利用散射光強(qiáng)直接測定高分子物質(zhì)的絕對分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3nm至10μm,支持低至12μL的微量樣品檢測,并具備自動化...
本文摘要在藥物顆粒粒徑表征和方法開發(fā)研究中,會遇到各類困擾研發(fā)人員的問題,包括背景、干擾、參數(shù)篩選、分散體系選擇、方法轉(zhuǎn)移、結(jié)果分析和對比,以及儀器簡單清理等日常維護(hù)。本文針對這類問題集中歸納分析,并給出專業(yè)的指導(dǎo)意見和解決方案。01丨濕法分散粒徑分布圖顯示大顆粒,是真實(shí)存在的顆粒嗎?濕法分散中出現(xiàn)有大顆粒分布,首先需要重復(fù)測樣或用顯微鏡輔助觀測判斷大顆粒情況,以排除樣品中確有真實(shí)的大顆粒的情況。而如果不是真實(shí)顆粒造成大顆粒分布的原因,有可能是藥物分散體系中揮發(fā)性有機(jī)試劑造成...