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X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫(huà)和壁畫(huà)。X射線熒光光譜儀的物理原理當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì)，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)...

Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。Zeta電位儀是由新...

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測(cè)定元素含量。近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行...

X射線熒光光譜分析通過(guò)將可選項(xiàng)的精度管理型軟件進(jìn)一步升級(jí),并使之成為標(biāo)準(zhǔn)配備，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格化。與以往儀器相比，環(huán)境管制物質(zhì)的測(cè)量時(shí)間大幅縮短，材料辨識(shí)功能、分析線切換功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜分析是一種常用的分析儀器，主要由激發(fā)源和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成?；驹砭褪牵篨射線管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，來(lái)激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量...

Insitec在線粒度分析儀粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆?？倲?shù)的比例。當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時(shí)，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒(méi)有特別說(shuō)明時(shí)，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達(dá)粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數(shù)，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑:中位徑記作x50,表示...