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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質上時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...
在上一篇“MP工具箱”文章中,我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數(shù)都代表了哪些含義,那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢?本文將就此問題給出解答。在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前,我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說,在合適的濃度范圍內,粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài)。還可以通過對countrate(測試光強)和attenuator(衰減器編號)等參數(shù)來考察...
本文摘要國家發(fā)改委于2005年發(fā)布了《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標準SH/T1612.8-2005。本文報告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標準方法對PTA樣品所進行的實驗過程,結果符合標準要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產品,主要用于生產聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產品指標。根據(jù)《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標準SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...
納米粒度電位儀是一種用于化學領域的分析儀器,主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態(tài)光散射(DLS)等技術,該儀器能夠準確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布,同時測定顆粒表面的Zeta電位,從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態(tài)光散射原理,通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當激光束照射到顆粒樣品上時,顆粒會散射光,散射光的強度與顆粒的大小和數(shù)量有關。通過分析散射光的波動情況,可以得到顆粒的粒徑分布信息...
納米粒度電位儀是一種高度專業(yè)化的分析儀器,廣泛應用于化學、生物學、材料科學、化學工程、環(huán)境科學技術及資源科學技術等多個學科領域。主要用于測量納米級和亞微米級顆粒的粒徑分布以及顆粒表面的Zeta電位。通過測量粒徑分布,可以了解顆粒的大小、形狀和分散性,這對于評估顆粒的穩(wěn)定性和性能至關重要。而Zeta電位的測量則有助于了解顆粒表面的電荷性質,從而推斷顆粒之間的相互作用和分散穩(wěn)定性。以下是納米粒度電位儀操作指南的具體內容:1、準備工作檢查電源與連接:確保儀器的電源線連接正常,避免因...
激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產品,工作原理基于光散射原理。當激光照射到顆粒上時,會產生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產生不同的散射光分布,通過檢測這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說,激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號,來確定顆粒的大小分布。激光粒度分布儀通常由激光器、樣品池、光學系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經過光學系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統(tǒng)收集,并聚焦到探測器上。探測...